критический размер локальных зон нарушения устойчивости оболочки изделия (Iкр)

5 критический размер локальных зон нарушения устойчивости оболочки изделия (I_кр): Минимальное расстояние между двумя ближайшими устойчивыми полосами скольжения слоев металла, возникающее при потере устойчивости оболочки изделия под действием нагрузок.

Примечание - Критический размер оболочки на поверхности изделия характеризуется расстоянием между двумя ближайшими экстремальными значениями СМПР, кратными типоразмеру оболочки.

Источник: ГОСТ Р 52081-2003: Контроль неразрушающий. Метод магнитной памяти металла. Термины и определения оригинал документа